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SN74BCT8244ADW

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74BCT8244ADW
  • Hersteller / Marke
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • ECAD -Modell
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • Verpackung
    Tube
  • Verpackung / Gehäuse
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Andere Namen
    296-47718
    SN74BCT8244ADW-ND
    SN74BCT8244ADWG4
    SN74BCT8244ADWG4-ND
  • Betriebstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Surface Mount
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Hersteller Standard Vorlaufzeit
    6 Weeks
  • Logiktyp
    Scan Test Device with Buffers
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  • Basisteilenummer
    74BCT8244
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760N

SN74BCT760N

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ANTG4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ADWR

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

Beschreibung: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8240ANTG4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8240ADWRG4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8244ANTG4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8244ADWR

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8244ANT

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ADW

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

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SN74BCT760DWRG4

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Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

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SN74BCT8245ANT

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

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SN74BCT8240ADWRE4

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Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

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