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SN74BCT8240ANT

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Spezifikation
  • Artikelnummer
    SN74BCT8240ANT
  • Hersteller / Marke
  • Bestandsmenge
    vorrätig
  • Beschreibung
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  • Bleifreier Status / RoHS Status
    Bleifrei / RoHS-konform
  • ECAD -Modell
  • Versorgungsspannung
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Supplier Device-Gehäuse
    24-PDIP
  • Serie
    74BCT
  • Verpackung
    Tube
  • Verpackung / Gehäuse
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Betriebstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Anzahl der Bits
    8
  • Befestigungsart
    Through Hole
  • Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logiktyp
    Scan Test Device with Inverting Buffers
  • Bleifreier Status / RoHS-Status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaillierte Beschreibung
    Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
  • Basisteilenummer
    74BCT8240
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760N

SN74BCT760N

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

Beschreibung: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760DWRG4

SN74BCT760DWRG4

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760DWR

SN74BCT760DWR

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Beschreibung: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig
SN74BCT760DWG4

SN74BCT760DWG4

Beschreibung: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Hersteller: Luminary Micro / Texas Instruments
vorrätig

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